Wir zeigen Ihnen die Oberfläche, wenn Sie möchten, bis zu den Atomen!

Topographische Kennwerte sind wichtige Zustandsbeschreibungen von Oberflächen wenn sie mit Sachverstand gewonnen und interpretiert werden. Wir ergänzen solche Messungen durch abbildende Analyseverfahren, die gleichzeitig Einblicke in die chemische Zusammensetzung des Materials erlauben. Wenn Sie ihre Oberfläche ganz genau kennen möchten, dann zeigen wir Ihnen die molekulare oder atomare Zusammensetzung Ihrer Beschichtungen oder auch dünnsten Belägen wie Verschmutzungen. Vieles ist möglich, um Oberflächen in ihrer ganzen Tiefe zu verstehen.

Auszug aus dem Leistungsspektrum:

  • Mikroskopie
    • Darstellung von Oberflächen mit Licht- und Rasterelektronenmikroskop
    • Untersuchung der Morphologie von Materialien
  • Benetzung und Penetration
    • Charakterisierung des Penetrationsverhaltens von Flüssigkeiten an Oberflächen/ Einzeltropfenanalyse
    • dynamische und statische Kontaktwinkelmessung
  • Optik:Bestimmung standardisierter Eigenschaften wie
    • Weißegrad, Opazität, Glanz
    • Lichtbeständigkeit und Lichtalterung von bedruckten und unbedruckten Mustern
  • Topographie
    • Bestimmung topografischer Kennwerte
    • Korrelation der Topographie mit physikalische Oberflächeneigenschaften
    • Bestimmung der Oberflächenstruktur mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM)
  • Chemische Oberflächencharakterisierung und „Mapping“
    • Abbildung der chemischen Zusammensetzung von Oberflächen
    • Identifizierung von Verschmutzungen oder Oberflächenfilmen
    • Bestimmung und Darstellung organischer und anorganischer Komponenten