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AiF-Innovationstag 2018: PTS stellt Forschungsprojekte im Bereich Verpackungen vor

Beim diesjährigen Innovationstag Mittelstand des Bundesministeriums für Wirtschaft und Energie (BMWi) am 7. Juni 2018 gab es zwei Jubiläen zu feiern: Neben dem 25. Innovationstag wurde auch auf 10 erfolgreiche Jahre des Zentralen Innovationsprogramms Mittelstand (ZIM) zurück geblickt.

Eröffnet wurde die Veranstaltung von Christian Hirte, Parlamentarischer Staatssekretär beim Bundesminister für Wirtschaft und Energie und Beauftragter der Bundesregierung für Mittelstand und für die neuen Bundesländer. Er und Bundeswirtschaftsminister Peter Altmaier würdigten die Innovationen, welche aus dem Mittelstand hervorgehen und sicherten innovativen Unternehmen die weitere Unterstützung durch das BMWi zu.

Die ca. 2.000 Besucher auf dem Freigelände der AiF Projekt GmbH in Berlin-Pankow hatten die Gelegenheit, sich bei mehr als 350 kleinen und mittleren Unternehmen, Forschungseinrichtungen und Kooperationsnetzwerke aus ganz Deutschland über die Ergebnisse von über 200 ausgestellten Forschungsprojekten zu informieren.

Wie an den vergangenen Innovationstagen präsentierte das Team der Papiertechnischen Stiftung (PTS) wieder zukunftsorientierte und praxisrelevante Forschungsprojekte.

PTS Team beim AiF-Innovationstag 2018

Zum einen wurde hier die Entwicklung einer Methode zur Messung der „Langzeittragfähigkeit von Verpackungen“ (IGF 18876, Download: Projektpräsentation) und zum anderen ein Konzept zu „Wasserbasierten Beschichtungen / Fehlerfreies Rillen“ (IGF 19313) vorgestellt. Als Demonstration des abgeschlossenen Forschungsprojektes „Langzeittragfähigkeit von Verpackungen“ wurde eine Vorrichtung zur Ermittlung des Langzeittragverhaltens von Wellpappe-Proben gezeigt. Diese Vorrichtung ermöglicht, das Kriechverhalten von Wellpappen-Proben bei Biegebelastung, sowohl im Normal- wie auch in abweichenden Klimaten zu bestimmen. Im Projekt wurde auch eine Vorrichtung zur Messung der Kriechverläufe unter Druckbelastung (Edge Crush Test, ECT) entwickelt.

Zudem lag ein Hauptaugenmerkt auf der optischen Dehnfeldanalyse von Verformungen beim Prozess des Hohlrillens über den Kartonquerschnitt, was im Projekt „Wasserbasierte Beschichtungen / Fehlerfreies Rillen“ (Download: Projektpräsentation) untersucht wird. Durch die optische Auswertung des Umformverhaltens kann die Delamination zwischen den Kartonlagen grafisch dargestellt und ausgewertet werden. Auf Grundlage der Posterpräsentationen und der Ausstellung der Demonstratoren sowie weiterer Anwendungsmöglichkeiten der optischen Dehnfeldanalyse kam es zu vielen intensiven Gesprächen über die Anwendung neuer Mess- und Auswertungsmethoden, auch über die Papiertechnik hinaus.

Die PTS blickt daher auf einen erfolgreichen und innovativen Tag in Berlin zurück und freut sich auf ein Wiedersehen beim nächsten AiF-Innovationstag 2019.

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Informationen zum AiF-Innovationstag 2018:

www.zim.de/ZIM/Redaktion/DE/Artikel/innovationstag-mittelstand-2018.html