
Topografie – Streifenprojektion
Artikelnummer:
530120
Norm:
Einsatz: Was wird mit dieser Methode bestimmt?
- Erzeugung von farbcodierten 3D-Bildern, Oberflächenprofilen
- Bestimmung topografischer Kennwerte von Oberflächen (Rauheit)
- Bestimmung von Höhen, Längen, Flächen und Winkeln spezifischer Oberflächenstrukturen
Messbereich
- Vergrößerungen:
- Low Mag-Bereich: 12x, 25x, 38x, 50x
- High Mag-Bereich: 40x, 80x, 120x,160x
- Messbare Höhen:
- Low-Mag-Bereich: 10 mm (± 5 mm ober- und unterhalb des Fokus)
- High-Mag-Bereich: 1 mm (± 0,5 mm ober- und unterhalb des Fokus)
- Auflösung:
- vertikal: 0,1 µm
- lateral: 3,6 µm
- max. Messfläche (bei kleinster Vergrößerung): 200 mm x 100 mm
Bewertungsmöglichkeiten: Was wird mit dieser Methode bewertet?
- Rauheit von Oberflächen (Flächenanalyse)
- Höhen / Tiefen (Rauheit, Welligkeit) von Profilen
- Längen und Winkel von Oberflächenstrukturen
Anwendungsbeispiele der Methode nach Material
- Charakterisierung der Oberflächen vieler Art Materialien möglich (z. B. Papier, Karton, Kunststoffbeschichtungen, Metalloberflächen etc.)
- Farbige 3D-Darstellung von Oberflächen, z. B. Prägungen, gedruckte Elektronik
- Bewertung von Druckprodukten
- Qualitätssicherung, Bewertung von Oberflächenartefakten
Welche Erkenntnisse erlangen Kunden mit dieser Methode über Ihre Produkte/Proben?
- Informationen über Oberflächenglätte bzw. Rauigkeit
- Änderung von Dimensionsgrößen (Länge, Breite, Höhe) in Abhängigkeit unterschiedlicher Behandlungen
- Qualitätsbewertung von Oberflächen und Ermittlung von Oberflächendefekten nach Herstellungsprozess (Einflüsse von Rohstoff- und Prozessparametern)
In welchem Unternehmens- oder Prozessbereich wird diese Methoden angewendet?
- Unternehmen: Produktentwicklung, Forschung, QS
Welche Probleme können diese Methode beim Kunden lösen / erkennen?
- Lösung oberflächenbedingter Probleme durch Korrelation topografischer Kennwerte mit physikalischen Oberflächeneigenschaften
- Prozessbezogene Interpretation von Oberflächenphänomenen
- Rohstoffbezogene Interpretation von Oberflächenphänomenen
- exakte Bestimmung / Messung von Dimensionsgrößen (Länge, Breite, Höhe) und Winkeln von Objekten und Oberflächenstrukturen
- Fehleranalyse bei Oberflächenartefakten oder Verarbeitungsproblemen (Welligkeit, Fingerrilligkeit, Falze/Rillungen etc.)